Diphenyl[4-(phenylthio)phenyl]sulfoniumHexafluorophosphate

≥95%(T)(HPLC)

Reagent รหัส: #180150
fingerprint
หมายเลข CAS 75482-18-7

science Other reagents with same CAS 75482-18-7

blur_circular ข้อมูลจำเพาะทางเคมี

scatter_plot ข้อมูลโมเลกุล
น้ำหนัก 516.50 g/mol
สูตร C₂₄H₁₉F₆PS₂
badge หมายเลขทะเบียน
MDL Number MFCD09751317
inventory_2 การจัดเก็บและการจัดการ
พื้นที่จัดเก็บ Room temperature, inert gas

description รายละเอียดสินค้า

ใช้หลักๆ เป็นโฟโตแอซิดเจนเนอเรเตอร์ (PAG) ในสูตรเรซิสต์ไวต่อแสงขั้นสูงสำหรับการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ เมื่อได้รับแสงอัลตราไวโอเลตลึก (DUV) หรือแสงอัลตราไวโอเลตสุดขีด (EUV) จะปล่อยกรดแรงที่เร่งปฏิกิริยาเคมีในเรซิสต์ ช่วยให้พัฒนาลวดลายที่แม่นยำในกระบวนการลิโธกราฟี ความคงตัวทางความร้อนสูงและการสร้างกรดที่มีประสิทธิภาพทำให้เหมาะสำหรับการสร้างลวดลายความละเอียดสูงที่จำเป็นในไมโครอิเล็กทรอนิกส์ นอกจากนี้ยังใช้ในกระบวนการพอลิเมอไรเซชันแบบแคทไอออนและการเคลือบพิเศษที่ต้องการการเริ่มต้นปฏิกิริยาที่ควบคุมด้วยแสง รวมถึงเป็นโฟโตอินิเทียเตอร์ชนิดแคทไอออนในกระบวนการแข็งตัวด้วยแสง โดยเฉพาะในเรซินที่ไวต่อแสง เช่น เรซินอีพอกซีและเรซินวินิล ช่วยเริ่มต้นปฏิกิริยาพอลิเมอไรเซชันเมื่อได้รับแสงอัลตราไวโอเลตหรือแสงที่มองเห็นได้ เหมาะสำหรับการใช้งานในสีเคลือบ หมึกพิมพ์ และวัสดุฟิล์มที่ต้องการการแข็งตัวเร็วและมีความทนทานสูง สามารถใช้ในระบบ UV-curing ได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยให้ผลิตภัณฑ์ที่มีความใส ทนต่อสารเคมี และมีความแข็งแรงของพันธะดี

shopping_cart ขนาดและราคาที่มีจำหน่าย

ปริมาณ Availability ราคาต่อหน่วย จำนวน
inventory 1g
10-20 days ฿1,800.00

ตะกร้า

ไม่มีสินค้า

Subtotal: 0.00
รวมทั้งสิ้น 0.00 THB
Diphenyl[4-(phenylthio)phenyl]sulfoniumHexafluorophosphate
No image available

ใช้หลักๆ เป็นโฟโตแอซิดเจนเนอเรเตอร์ (PAG) ในสูตรเรซิสต์ไวต่อแสงขั้นสูงสำหรับการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ เมื่อได้รับแสงอัลตราไวโอเลตลึก (DUV) หรือแสงอัลตราไวโอเลตสุดขีด (EUV) จะปล่อยกรดแรงที่เร่งปฏิกิริยาเคมีในเรซิสต์ ช่วยให้พัฒนาลวดลายที่แม่นยำในกระบวนการลิโธกราฟี ความคงตัวทางความร้อนสูงและการสร้างกรดที่มีประสิทธิภาพทำให้เหมาะสำหรับการสร้างลวดลายความละเอียดสูงที่จำเป็นในไมโครอิเล็กทรอนิกส์ นอกจากนี้ยังใช้ในกระบวนการพอลิเมอไรเซชันแบบแคทไอออนและการเคลือบพิเศษที่ต้องการการเริ่มต้นปฏิกิริยาที่ควบคุมด้วยแสง รวมถึง

ใช้หลักๆ เป็นโฟโตแอซิดเจนเนอเรเตอร์ (PAG) ในสูตรเรซิสต์ไวต่อแสงขั้นสูงสำหรับการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ เมื่อได้รับแสงอัลตราไวโอเลตลึก (DUV) หรือแสงอัลตราไวโอเลตสุดขีด (EUV) จะปล่อยกรดแรงที่เร่งปฏิกิริยาเคมีในเรซิสต์ ช่วยให้พัฒนาลวดลายที่แม่นยำในกระบวนการลิโธกราฟี ความคงตัวทางความร้อนสูงและการสร้างกรดที่มีประสิทธิภาพทำให้เหมาะสำหรับการสร้างลวดลายความละเอียดสูงที่จำเป็นในไมโครอิเล็กทรอนิกส์ นอกจากนี้ยังใช้ในกระบวนการพอลิเมอไรเซชันแบบแคทไอออนและการเคลือบพิเศษที่ต้องการการเริ่มต้นปฏิกิริยาที่ควบคุมด้วยแสง รวมถึงเป็นโฟโตอินิเทียเตอร์ชนิดแคทไอออนในกระบวนการแข็งตัวด้วยแสง โดยเฉพาะในเรซินที่ไวต่อแสง เช่น เรซินอีพอกซีและเรซินวินิล ช่วยเริ่มต้นปฏิกิริยาพอลิเมอไรเซชันเมื่อได้รับแสงอัลตราไวโอเลตหรือแสงที่มองเห็นได้ เหมาะสำหรับการใช้งานในสีเคลือบ หมึกพิมพ์ และวัสดุฟิล์มที่ต้องการการแข็งตัวเร็วและมีความทนทานสูง สามารถใช้ในระบบ UV-curing ได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยให้ผลิตภัณฑ์ที่มีความใส ทนต่อสารเคมี และมีความแข็งแรงของพันธะดี

Mechanism -
Appearance -
Longevity -
Strength -
Storage -
Shelf Life -
Allergen(s) -
Dosage (Range) -
Dosage (Per Day) -
Mix Method -
Heat Resistance -
Stable in pH range -
Solubility -
Product Types -
INCI -

Purchase History for

Loading purchase history...